2023年7月11日，浙江埃纳检测受邀参加了战略合作伙伴安捷伦科技（中国）有限公司在杭州举办的“安捷伦半导体行业分析技术专题研讨会”。

    会上，浙江埃纳检测研发总监肖滋兰博士以其公司产品MW-310 VPD-ICPMS为例，进行了关于“实现1E7 atoms/cm²的终极解决方案”报告分享，并同参会的各位嘉宾共同探讨了关于有效进行wafer表面金属污染检测所使用的设备、方法以及实现1E7 atoms/cm²检测目标的重点、难点分析等问题。

    现场的交流活动，反响相当强烈。